Savunma elektroniği ve elektro-optik sistemler
El tipi terminaller, görüntüleme ve hedefleme sistemleri, 905 nm lazer tabanlı mesafe ölçüm ve SiPM dedektör elektroniği.
Elektro-optik sistemlerde optik, analog ön uç, yüksek hızlı sayısal işleme ve mekanik tasarım tek bir ürünü oluşturur. Bu alandaki çalışmalar lazer sürücü ve dedektör elektroniğinden görüntü işleme donanımına, el tipi cihaz ergonomisinden ortam koşullarına dayanıklılığa kadar sistem düzeyinde ele alınır.
Lazer Mesafe Ölçer ile SiPM Dedektör ve 905 nm Lazer ürünleri bu alanda geliştirilmiş örneklerdir.
El tipi terminaller
Sahada elle taşınan cihazlarda güç tüketimi, batarya yönetimi, ekran okunabilirliği ve darbe / sızdırmazlık gereksinimleri tasarımı belirler. Mikrodenetleyici veya uygulama işlemcisi tabanlı mimari, düşük güç modları, kullanıcı arayüzü ve haberleşme (kablolu / RF) birlikte tasarlanır.
Görüntüleme ve hedefleme sistemleri
Görüntü sensörü arayüzleri, FPGA tabanlı ön işleme, video akışı ve hedef işaretleme fonksiyonları; optik eksen hizalama ve kalibrasyon. Görüntü verisinin gerçek zamanlı işlenmesi için FPGA ve gömülü işlemci birlikte kullanılır; mesafe ölçüm ve yönelim verisi görüntüyle aynı zaman tabanında birleştirilir.
Lazer tabanlı sistemler
905 nm darbeli lazer diyotları için yüksek akımlı, nanosaniye mertebesinde darbe süreli sürücü devreleri; SiPM (silikon fotoçoğaltıcı) ve APD tabanlı alıcı ön uçları; uçuş süresi (time-of-flight) ölçümü için zamanlama elektroniği ve sinyal işleme bu kapsamdadır. Göz güvenliği sınıfı, atmosferik zayıflama ve hedef yansıtıcılığı tasarım girdileridir.
İlgili ürün ve hizmetler
Lazer Mesafe Ölçer
- 905 nm dalga boyu
- 3 km ölçüm mesafesi
- 0,6 m ölçüm hassasiyeti
- 6× zoom
SiPM Dedektör ve 905 nm Lazer
- 905 nm dalga boyu
- SiPM tabanlı dedektör
- 10–100 ns lazer darbe genişliği
- 80 A lazer tepe akımı
İlgili teknik notlar
SiPM ön uç devrelerinde gürültü tabanı, karanlık sayım oranı ve sıcaklık kompanzasyonu
SiPM mikrohücre modeli, karanlık sayım ve korelasyonlu gürültü, kırılma geriliminin sıcaklık katsayısı, bias kompanzasyonu, ön uç ve LiDAR eşik seçimi.
905 nm darbeli TOF mesafe ölçümünde zamanlama hassasiyeti: walk hatası, jitter ve zaman damgalama mimarileri
905 nm darbeli TOF ölçümünde jitter ve walk hatasının türetilmesi, CFD ve zaman alanı düzeltmesi, TDC mimarileri, hata bütçesi ve doğrulama yöntemi.
Bu alandaki bir ihtiyacınız için bize yazın.
İletişime geçin